涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型：磁性測(cè)厚法、渦流測(cè)厚法、超聲波測(cè)厚法、電解測(cè)厚法、放射測(cè)厚法。國(guó)內(nèi)目前使用最為普遍的是第1，2兩種方法。
磁吸力原理的測(cè)厚儀利用永久磁鐵測(cè)頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測(cè)量覆層的厚度，這個(gè)距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可以進(jìn)行測(cè)量。
磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀磁感應(yīng)原理是利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來(lái)測(cè)定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準(zhǔn)容易，可以實(shí)多種功能，擴(kuò)大量程，提高精度，由于測(cè)試條件可降低許多，故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。
覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可以測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3～5倍以上（如銅上鍍鉻）。校準(zhǔn)的原則是沒(méi)有覆層的校準(zhǔn)試樣與被測(cè)物的基材應(yīng)有：成分相同，厚度相同（主要在于厚度小于儀器規(guī)定的最小值約0.5mm以下時(shí)），有相同的曲率半徑，如被測(cè)面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求（直徑約20mm以下），還應(yīng)有相同的被測(cè)面積。如覆層含有導(dǎo)電成份，校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測(cè)物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過(guò)其它（包括有損測(cè)試方法）測(cè)試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層，就可以在其上面按說(shuō)明書的方法校準(zhǔn)測(cè)厚儀。公司網(wǎng)址：wpvh.cn